تأثیر گوشه‌های فرآیندی (FF/SS/Typical) بر رفتار MOSFET و مدار

تمایز mismatch و process variation و پیامدهای طراحی

روش‌های Monte Carlo (mismatch، process variation و حالت ترکیبی)

استخراج نقاط کار (Operating Point) و رسم منحنی Vout(Vin) در Cadence

راه‌اندازی Monte Carlo در ADE XL و تحلیل آماری نتایج (هیستوگرام، میانگین، واریانس)